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Semiconductor

试验自动化解决方案

SSELF™ for Semiconductor

- 随使用者设定的柔和测试

- 发出网格别, 集团别多样错误形态

- 提供晶片/电路图过滤工具，支援选别特定领域

- 导出客观性检查结果

- 制品构成群
(晶片/电路图过滤工具application, 晶片/电路图不良检查 library或application)

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随使用者设定的柔和测试

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发出网格别, 集团别多样错误形态

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提供晶片/电路图过滤工具，支援选别特定领域

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导出客观性检查结果

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制品构成群
(晶片/电路图过滤工具application, 晶片/电路图不良检查 library或application)

检查微细搔痕

检查硅瘢痕

检查特定选别领域

把检查出的错误转为晶片物理坐标x, y, theta, 按集团别输出

利用一定的坐标方格值，输出正规化的错误检查结果

检查电路短路

检查电路重叠

检查电路长度异常 检查

检查电路图特定选别领域