-
HiddenTag
-
Solusi HiddenTag
-
ScanHit
-
SSELF
-
Solusi Multimedia
Semikonduktor
Solusi otomatisasi uji produk
SSELF ™ untuk Semikonduktor
-
-
-
Pengujian yang fleksibel sesuai dengan pengaturan pengguna
-
-
-
Output Berbagai jenis kesalahan berdasarkan grid dan grup
-
-
-
Mendukung deteksi pemilihan area tertentu dengan menyediakan alat penyaringan diagram wafer/sirkuit
-
-
-
Derivasi hasil tes objektif
-
-
-
Kelompok komposisi produk
(Aplikasi pemfilteran diagram wafer / sirkuit, pustaka atau aplikasi pendeteksian diagram sirkuit wafer)
-
Pengujian yang fleksibel sesuai dengan pengaturan pengguna
-
Output Berbagai jenis kesalahan berdasarkan grid dan grup
-
Mendukung deteksi pemilihan area tertentu dengan menyediakan alat penyaringan diagram wafer/sirkuit
-
Derivasi hasil tes objektif
-
Kelompok komposisi produk
(Aplikasi pemfilteran diagram wafer / sirkuit, pustaka atau aplikasi pendeteksian diagram sirkuit wafer)
Deteksi goresan halus
Deteksi titik silicon
Deteksi pemilihan area spesifik
Konversi kesalahan yang terdeteksi ke koordinat fisik x, y, theta wafer, keluaran berdasarkan grup
Keluaran hasil deteksi kesalahan yang dinormalkan menggunakan grid konstan
Deteksi putus sirkuit
Deteksi tumpang tindih sirkuit
Deteksi kesalahan panjang sirkuit
Diagram sirkuit deteksi pemilihan area tertentu
Produk dan Layanan
.png)
.png)